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AP54RHC505ELT-R

Name: Apogee Semiconductor AP54RHC505ELT-R
Brand: Apogee Semiconductor
SKU: 444-AP54RHC505ELT-R
Price: 91.41 EUR
Availability: InStock

Bilder dienen lediglich der Veranschaulichung und sind nicht Originalgetreu
Siehe Produktspezifikationen

Mouser-Nr.:

444-AP54RHC505ELT-R

Herst.- Nr.:

AP54RHC505ELT-R

Herst.:

Apogee Semiconductor

Beschreibung:

Übersetzungsspannungs-Pegel LEO 5-Ch Level Translators w/Bus Hold E-Grade SnPb TSSOP14 Tape and Reel

Datenblatt:

AP54RHC505ELT-R Datenblatt (PDF)

ECAD Model:

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Menge	Stückpreis	Erw. Preis
	€ 91,41	€ 91,41
	€ 76,43	€ 764,30
	€ 72,69	€ 1.817,25
	€ 68,59	€ 6.859,00
Ganzes Reel (Sie bestellen ein Vielfaches von 250)
	€ 66,63	€ 16.657,50
500	Kostenvoranschlag

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Produktattribut	Attributwert	Attribut auswählen
Hersteller:	Apogee Semiconductor
Produktkategorie:	Übersetzungsspannungs-Pegel
RoHS:
REACH - SVHC:
Typ:	Level Translator
Logiktyp:	CMOS
Verpackung/Gehäuse:	TSSOP-14
Versorgungsspannung - Max.:	5.5 V
Versorgungsspannung - Min.:	1.65 V
Serie:	AP54RHC505
Verzögerungszeit Übertragungs:	25 ns
Minimale Betriebstemperatur:	- 55 C
Maximale Betriebstemperatur:	+ 125 C
Montageart:	SMD/SMT
Verpackung:	Reel
Verpackung:	Cut Tape
Marke:	Apogee Semiconductor
Land der Bestückung:	Not Available
Land der Verbreitung:	Not Available
Ursprungsland:	US
Logikfamilie:	AP54RHC
Anzahl der Kanäle:	5 Channel
Betriebsversorgungsstrom:	100 mA
Produkt-Typ:	Translation - Voltage Levels
Verpackung ab Werk:	250
Unterkategorie:	Logic ICs
Handelsname:	RelBridge
Gewicht pro Stück:	47 mg

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Datenblatt

AP54RHC505ELT-R Datenblatt (PDF)

PCN

Test/Quality Data

TARIC:: 8542399000
USHTS:: 8542390090
ECCN:: EAR99

AP54RHC505 Rad-Hard 5-Ch Translators w/Bus Hold

Apogee Semiconductor AP54RHC505 Rad-Hard 5-Channel Level Translators with 3-state outputs and bus-keepers are designed for space, medical imaging, and other applications requiring radiation tolerance. The radiation-hardened by design AP54RHC505 level translators are fabricated in a 180nm CMOS process. These translators deliver high resiliency to single-event effects (SEE) and to a total ionizing dose (TID) up to 30krad (Si).